Clasificación de defectos en STM con escasez de datos
Descubre cómo un nuevo método combina aprendizaje few-shot y no supervisado para clasificar defectos en STM usando solo una imagen etiquetada. Automatización
#escasez de datos etiquetados
Descubre cómo un nuevo método combina aprendizaje few-shot y no supervisado para clasificar defectos en STM usando solo una imagen etiquetada. Automatización